Аналізатор плям, незалежно розроблений компанією Light Research Technology, може реалізувати застосування для виявлення та тестування лазерних плям. Він надає клієнтам індивідуальні інтегровані дизайнерські рішення для аналізу якості променя та підтримує розробку для багатьох застосувань. Завдяки інтегрованій конструкції пристрою для аналізу променя та схеми ослаблення можна вимірювати світлову пляму діаметром до 40 мкм, а також підтримувати регулювання експозиції та підсилення в режимі реального часу. Система може вибірково аналізувати безперервну видиму лазерну пляму, аналізувати центр лазерної плями, радіус, коефіцієнт еліпса тощо, а також відображати енергетичне поле інтенсивності світла у двох та трьох вимірах. Вона може широко використовуватися в ситуаціях, коли потрібно визначити форму лазерної плями, таких як лазерне виробництво, технічне обслуговування та лазерні застосування. Вона також широко використовується для контролю якості оптичних пристроїв, регулювання дзеркала лазерного резонатора, вирівнювання зовнішнього оптичного шляху, аналізу з'єднання вирівнювання волокон тощо. Наразі вона просувається на ринку як зрілий продукт з високою економічною ефективністю та була визнана великою кількістю клієнтів.
Компанія Wavelength вже 20 років спеціалізується на виробництві високоточних оптичних продуктів.