Рекомендація щодо продукту | Потрійна ахроматична F-тета лінза
Стандартні об'єктиви для лазерного сканування зазвичай розраховані на одну довжину хвилі — перемикання на інший лазер призводить до зміщення фокусної відстані, розмитих плям та розмитого маркування. Дводіапазонні об'єктиви для сканування можуть коригувати хроматичну аберацію лише між двома довжинами хвиль.
3-хвильова ахроматична скануюча лінза – це спеціалізована скануюча фокусуюча лінза, яка одночасно усуває хроматичну аберацію для трьох різних довжин хвиль лазера. Усі три довжини хвиль використовують один і той самий оптичний набір; перемикання між процесами вимагає простої зміни джерела лазера, без необхідності розбирати лінзу чи перефокусувати її. Це робить її ідеальною для багатопроцесорних систем обробки композитних матеріалів.
Найпоширеніша промислова комбінація довжин хвиль: 355 нм (УФ), 532 нм (зелений) та 1064 нм (ІЧ).
Основні переваги оптичних характеристик
1. Парфокальне вирівнювання трьох довжин хвиль з постійною якістю плями
Одночасна корекція хроматичної аберації для 355/532/1064 нм (або користувацьких комбінацій діапазонів RGB, UV-VIS-SWIR). Фокальні площини всіх трьох довжин хвиль збігаються, що забезпечує однакову округлість плями по всьому полю сканування без осьового розфокусування або хроматичних спотворень по краях.
2. Висока точність обробки композитів з мінімальною похибкою позиціонування
Окрім хроматичної аберації, також оптимізовано кривизну поля, спотворення, сферичну аберацію та кому. Висока лінійна точність сканування f-тета дозволяє вибирати довжину хвилі на основі конкретних вимог до заготовки. Багатохвильова композитна обробка деталей значно підвищує загальну точність обробки.
3. Низька кривизна поля та чудова однорідність плями по всьому полю
Сценарії застосування
343 нм для видалення органічних матеріалів, таких як фоторезист; 515 нм для видалення металу або полікремнію з пасиваційних шарів; та 1030 нм для видалення ITO з пасиваційних шарів. Ідеально підходить для ремонту та інспекції панельних дисплеїв.
Параметри продукту：
| Довжина хвилі | 1030 нм, 515 нм та 343 нм |
| Діаметр вхідного променя | 10 мм |
| Ефективна фокусна відстань (EFL) | 250 мм |
| Розмір точки фокусування | 46,94–46,97 мкм при 1030 нм 23,62–23,76 мкм при 515 нм 15,69–16,37 мкм при 343 нм |
| Поле сканування | 17×17 мм |
| Робоча відстань (WD) | 224,5 мм |
| Загальна довжина об'єктива | 46 мм |
| Зовнішній діаметр лінзи | Φ82 мм |
| Кривизна поля | <0,1 мм |
| Спотворення | <0,1% |
Доступний індивідуальний дизайн відповідно до фактичних вимог.
Час публікації: 08 липня 2026 р.